Issue 22
D. Firrao et alii, Frattura ed Integrità Strutturale, 22 (2012) 12-19; DOI: 10.3221/IGF-ESIS.22.02 17 F RATTURE DI FATICA NELLE LEGHE A L - S I IPOEUTETTICHE i hanno ora gli strumenti per comprendere la genesi della frattura per fatica riportata in Fig. 4. La lega, come già detto, è classificabile come AlSi7Mg-T6 (A356.0) e, secondo la norma UNI EN 1706:2010, come lega EN AC 42100 colata in conchiglia. Le caratteristiche meccaniche minime di tale lega riportate nelle tabelle UNI-EN 1706:2010 sono: R m = 290 MPa, R p0,2 = 210 MPa, A = 4%, HB = 90. Dal complesso dei risultati riportati in letteratura si può attribuire a tale lega una tenacità a frattura K Ic ≈ 27 MPa√m ed un limite di fatica a 5·10 7 cicli di 90 - 100 MPa. Le norme americane relative alla lega A 356.0 colata in conchiglia indicano come valori minimi delle caratteristiche meccaniche: R m = 260 MPa, R p0,2 = 185 MPa, A = 5%, HB = 80. I valori minimi delle caratteristiche meccaniche incontrati in letteratura [7] sono R m = 190 MPa, R p0,2 = 155 MPa, A = 4 %, e K Ic ≈ 21 MPa√m. Assumendo qualsiasi coppia di valori K Ic ed R p0,2 , le dimensioni delle zone plastiche statiche sono dell’ordine del mm; per quanto più piccole, le zone plastiche cicliche comprendono molte inclusioni di silicio (Fig. 9,10). Figura 9 : Particolare di una superficie di rottura a fatica in una lega AlSi7Mg-T6. Figure 9 : Detail of a fatigue rupture surface in an AlSi7Mg-T6 alloy. Figura 10 : Zona plastica di fronte all’apice della cricca di fatica propagantesi in una lega AlSi7Mg-T6. Figure 10 : Plastic zone in front of the fatigue crack tip growing in an AlSi7Mg-T6 alloy. Anche in questo caso si deve assumere che davanti all’apice della cricca, che nella sua propagazione segue le zone eutettiche, ricche di inclusioni di silicio, si abbia subito la rottura di tali inclusioni e che rimanga a resistere un insieme di legamenti costituiti prevalentemente da lega Al-Si con circa l’1,5% di Si. Tali legamenti hanno spessore dell’ordine di 5·10 -6 m. S
Made with FlippingBook
RkJQdWJsaXNoZXIy MjM0NDE=