Issue 2

M. Guagliano, Frattura ed Integrità Strutturale, 2 (2007) 25-35 26 riali differenti ed hanno contribuito allo sviluppo di que- sta tecnica: Suzuki et al. [13] hanno eseguito uno studio XRD sulla superficie di frattura di un pezzo in ghisa dut- tile considerando la misura dell’austenite residua. Mori et al. [14] hanno applicato questa tecnica alla frattografia di compositi sinterizzati considerando solo situazioni stati- che . Rajianna et al. [15-17] hanno eseguito analisi fratto- grafiche XRD su un acciaio C45 considerando differenti temperature di frattura. La maggior parte degli studi condotti si riferiscono, tutta- via, a provini standard, tipicamente provini CT. Ci sono pochi articoli che considerano l’analisi di cedimenti su elementi di macchine o componenti strutturali. In [18] viene descritta la frattografia XRD di una biella di un so- lenoide rotta per fatica. In [18] si considera una giunzione tubolare saldata di una struttura off-shore, mentre in [19] si analizza la rottura della testa di una rotaia per mezzo di provini di laboratorio. In [20] si ricercano le cause del cedimento dell’albero di una turbina a vapore per mezzo della XRD. Lo studio di veri e propri elementi di macchine con la dif- frattometria dei raggi X, presenta differenze non trascu- rabili rispetto ad analisi condotte su provini di laborato- rio: ciò è dovuto al fatto che le effettive condizioni di lavoro non sono sempre note e possono variare durante la durata operativa della macchina, rendendo più difficile l’analisi dei dati sperimentali. In questa memoria si considera un albero a gomiti utiliz- zato in un motore diesel veloce per applicazioni navali. L’albero si è rotto durante prove di fatica flessionale (R=- 1) [21] . Dopo aver caratterizzato il materiale con cui l’albero a gomiti era costruito per mezzo di prove speri- mentali e di misure XRD condotte su provini standard, si è analizzata la superficie di frattura dell’albero a gomiti con la XRD, considerando diversi punti sulla superficie per differenti stati di propagazione della cricca. La finalità di queste analisi è verificare la possibilità di utilizzare convenientemente questa tecnica di misura per analizzare cedimenti avvenuti in esercizio. I risultati ottenuti sono stati confrontati con dati relativi ad una albero a gomiti molto simile a quello considerato; il confronto è stato più che soddisfacente. Nella memoria alcuni aspetti relativi all’utilizzo del XRD e alla misura degli sforzi residui e del FWHM per l’analisi dei cedimenti sono discussi alla luce dell’attuale stato dell’arte. 2 PRINCIPI DI DIFFRATTOMETRIA DEI RAGGI X Nel presente paragrafo si espongono i principi che sono alla base della diffrattometria dei raggi X per la misura degli sforzi residui e il suo utilizzo in sede di analisi frat- tografica di cedimenti per fatica. Ulteriori dettagli posso- no essere reperiti in letteratura, ad esempio in [1,2] e in [11,12]. 2.1 La diffrattometria dei raggi X per la misura degli sforzi residui La misura degli sforzi residui con la diffrazione dei raggi X in materiali policristallini si fonda sull’applicazione della legge di Bragg. Se un fascio di raggi X colpisce un cristallo, ci sarà interferenza costruttiva, o diffrazione, quando (1) dove λ è la lunghezza d’onda della radiazione incidente, d è la distanza tra due piani cristallini consecutivi con in- dici hkl di Miller assegnati, θ è l’angolo di incidenza del fascio di raggi X rispetto ai piani cristallini di interesse, n =1, 2, 3, con l’unica limitazione che sen θ <1. In Fig. 1 è illustrata graficamente la condizione di diffrazione dei raggi X. Se il cristallo è deformato, come nel caso di sforzi residui indotti da precedenti trattamenti o dall’applicazione di ca- richi elevati, la distanza d cambia, e, con essa, varierà an- che l’angolo θ di diffrazione. Misurando la variazione dell’angolo di diffrazione si è in grado di mettere in rela- zione la variazione della distanza tra i grani cristallini con la deformazione del reticolo cristallino: (2) Con l’applicazione delle formule della teoria dell’elasticità lineare è poi possibile mettere in relazione le deformazioni con gli sforzi presenti nel materiale. Tuttavia, i metalli e le leghe metalliche sono caratterizzati da una struttura policristallina, con i grani cristallini o- rientati casualmente rispetto alla superficie dei pezzi. Ciò implica che avremo piani caratterizzati dai medesimi in- dici di Miller diversamente orientati rispetto alla superfi- cie, in quanto appartenenti a differenti grani cristallini. In Fig. 2 è illustrato il sistema di coordinate definito dalle direzioni principali. In tale figura si assume che lo sforzo normale alla superficie ( σ 33 ) sia nullo; inoltre si defini- scono gli angoli ψ e φ. Variando l’angolo ψ di incidenza tra il fascio di raggi X e la superficie oggetto della misura, si interessano alla mi- sura differenti grani cristallini. Si ottiene: θ λ dsen n 2 = θ θ ε Δ −= Δ = cot d d Figura 1. Diffrazione dei raggi X rispetto a un reticolo cri- stallino.